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聯(lián)系檳城

實(shí)驗(yàn)室資源

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產(chǎn)品展示

關(guān)于檳城

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SEM掃描電鏡
設(shè)備名稱:SEM掃描電鏡&EDX
設(shè)備型號(hào):JSM-6010PLUS/LA
適用標(biāo)準(zhǔn):GB/T 15074-2008
適用對(duì)象:產(chǎn)品、材料形貌觀察、元素分析
測(cè)試量級(jí):倍率:300000X,有效像素20000X